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渦流測厚儀 型號:TX20-ED400

渦流測厚儀 型號:TX20-ED400

簡要描述:
渦流測厚儀 型號:TX20-ED400

技術(shù)參數(shù)
測量范圍: 0~500 μm
測量精度: 0~50 μm:±1 μm;
50~500 μm:±2%
分辨率: 0~50 μm:0.1 μm;
50~500 μm:1 μm;
0~500 μm:1 μm(可選)

產(chǎn)品時間:2023-12-06

訪問量:714

廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

生產(chǎn)地址:

品牌其他品牌

渦流測厚儀 型號:TX20-ED400

儀器適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度,還可用于測量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽極氧化膜或涂層厚度,測量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度,測量塑料薄膜及紙張厚度。

渦流測厚儀 型號:TX20-ED400

技術(shù)參數(shù)
測量范圍: 0~500 μm
測量精度: 0~50 μm:±1 μm;
50~500 μm:±2%
分辨率: 0~50 μm:0.1 μm;
50~500 μm:1 μm;
0~500 μm:1 μm(可選)
使用溫度: 5~45℃
外形尺寸: 150 mm×80 mm×30 mm
重量: 280 g




渦流測厚儀 型號:TX20-ED400

儀器適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度,還可用于測量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽極氧化膜或涂層厚度,測量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度,測量塑料薄膜及紙張厚度。

渦流測厚儀 型號:TX20-ED400

技術(shù)參數(shù)
測量范圍: 0~500 μm
測量精度: 0~50 μm:±1 μm;
50~500 μm:±2%
分辨率: 0~50 μm:0.1 μm;
50~500 μm:1 μm;
0~500 μm:1 μm(可選)
使用溫度: 5~45℃
外形尺寸: 150 mm×80 mm×30 mm
重量: 280 g


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